Spektrofluorymetr FS5-MCS-TCSPC-NIRA-POL (Edinburgh Instruments)
Urządzenie do pomiarów: stacjonarnych, czasów życia fluorescencji i fosfo- rescencji, anizotropii, wydajności kwantowej oraz pomiarów w bliskiej podczerwieni do 1650 nm.
Rodzaj badanych próbek: ciecze, ciała stałe oraz proszki.
Parametry urządzenia:
- Źródło światła: lampa ksenonowa 150 W
- Monochromator w komorze wzbudzenia, zakres pracy od 200 nm do 1000 nm, siatka dyfrakcyjna 1200 g/mm zoptymalizowana dla 350 nm, automatycznie sterowany zestaw filtrów dla eliminacji efektów optycznych drugiego rzędu
- Monochromator w komorze emisji, zakres pracy od 200 nm do 1000 nm, siatka dyfrakcyjna 1200g/mm zoptymalizowana dla 500 nm
- MCS - moduł umożliwia prowadzenie pomiarów zaniku fosforescencji w prze- dziale od 5μs do 10 s
- TCSPC - moduł umożliwia prowadzenie pomiarów zaniku fluorescencji w przedziale od 150 ps do 50 μs
- NIRA - moduł do pomiarów w bliskiej podczerwieni do 1650 nm
- POL - polaryzatory dla pomiarów anizotropii.
Spektrofotometr dwuwiązkowy UV – VIS - NIR (Jasco V-670)
Urządzenie umożliwia pomiar absorbancji, transmitancji oraz przy wykorzystaniu odpowiednich przystawek pomiary właściwości powierzchniowych badanych materiałów (pomiary odbiciowe przy wykorzystaniu kuli całkującej) w zakresie długości fali 190 - 2700 nm.
Rodzaj badanych próbek: ciała stałe (głównie szkło), ciecze
Parametry urządzenia:
- Źródło światła: lampa deuterowa (190-350nm), halogenowa (330-2700nm)
- Detektor: fotopowielacz oraz PbS
- Dokładność fotometryczna na poziomie ±0,002 ABS (0-0,5 ABS), ±0,003 ABS
(0,5-1 ABS), ±0,3%T, - Szum RMS: 0,00003 ABS
- Dokładność długości fali: ±0,3 (szczelina 0,5nm, zakres UV-VIS), ±1,5 nm (szczelina 2nm, zakres NIR)
- Kula całkująca: średnica 60 mm, zakres długości fali: 200 – 2500 nm.
Spektrometr FTIR Nicolet iS50 Thermo Scientific
Urządzenie przeznaczone do analiz spektralnych różnych substancji w zakresie podczerwieni.
Pozwala na wykonanie pomiarów:
- Widm w zakresie 7 800 – 350 cm-1
- Pomiarów transmisyjnych próbek o różnych kształtach i grubości do 3,5 cm
- Analizę ilościową i klasyfikacyjną.
Parametry urządzenia:
- Zdolność rozdzielcza 0.09-1 cm-1
- System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (ATR – Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery.
- Skanowanie liniowe z szybkością regulowaną w zakresie 0.16 - 6.2 cm/s
- Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) nie przekracza 7.9 x 10-6 Abs (sygnał/szum ³ 55 000:1) dla detektora DLaTGS, rozdzielczości 4 cm-1 przy pomiarze 1 min
- Duża szybkość zbierania danych 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm-1 (odstęp danych 8 cm-1 )
- Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne (zakres maksymalny 27 000 - 15 cm-1 ) i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, FT-Raman.
- Dodatkowo wyposażony w mikroskop
Spektrometr Ramana LabRAM HR Evolution Horiba Scientific
Urządzenie do pomiarów mikro- i makro z zaawansowanymi możliwościami obrazowania konfokalnego w 2D i 3D. Stosowany do standardowej analizy ramanowskiej, fotoluminescencji (PL), rozproszonego rozpraszania Ramana (TERS) i innych metod hybrydowych.
Umożliwia charakteryzację struktury molekularnej różnych materiałów obejmujących minerały (cienkie warstwy i proszki), próbki biologiczne, płyny, rozpuszczone gazy i in. System jest zoptymalizowany do szybkiego hiperspektralnego obrazowania ramanowskiego powierzchni próbek (obszary do kilku mm2) w rozdzielczościach przestrzennych do około 1 mikrona. Wyposażony jest w lasery 532 nm i 785 nm oraz siatki dyfrakcyjne o wysokiej i niskiej rozdzielczości. Konfokalna optyka pozwala na profilowanie głębokości, czy charakterystykę cienkowarstwową.
Cechy urządzenia:
- Wysokie rozdzielczości przestrzenne i spektralne UV do NIR
- Łatwość użytkowania i ergonomia
- Ultraszybkie obrazowanie konfokalne
- Kompatybilny z Raman-AFM i TERS
- Ultra niska częstotliwość
- Zautomatyzowana lokalizacja cząstek i identyfikator chemiczny
- Znalezienie najlepszych warunków do analizy próbek
- Pułapka laserowa CaptuR
Reflektometr spektroskopowy F20-UV Filmetrics
Urządzenie do pomiaru grubości i współczynnika refrakcji w zakresie grubości 1nm - 40µm przy długościach fali 190-1100nm.
Urządzenie jest w stanie określić charakterystykę cienkiej warstwy dokładnie mierząc ilość światła odbijanego od cienkiej warstwy w zakresie długości fali 190-1100nm. Następnie analizuje te dane poprzez porównanie z serią obliczonych widm odbicia.
Wyposażony w:
- Filtr spłaszczający (do podłoży odbijających światło)
- Zintegrowany moduł spektrometru / źródła światła
- Oprogramowanie FILMeasure 9
- Samodzielne oprogramowanie FILMeasure do zdalnej analizy danych
- Stopień próbkowania SS-3 z kablem światłowodowym
- Standardy odbicia
- Standard grubości
Elipsometr SEMILAB SE-2000
Wykonuje bezstykowe i nieniszczące pomiary optyczne na podłożach jedno- lub wielowarstwowych próbek w celu uzyskania grubości warstwy oraz właściwości optycznych. System posiada modułowy i wszechstronny wygląd, aby umożliwić pomiary zarówno prostych pojedynczych warstw, jak i do bardziej wymagających zastosowań, łączących polarymetrię, skaterometrię i elipsometrię korzystając z matrycy Mueller’a. Urządzenie posiada unikalny niezależny wybór kąta ramion goniometrów i mały rozmiar plamki. SE-2000 oferuje najszerszy zakres spektralny dostępny na jednym narzędziu. Zakres waha się od głębokiego UV (190 nm) do średniego IR (25 μm).
Umożliwia pomiary:
- Grafenu
- Materiałów ferroelektrycznych (BST, SBT, PZT)
- Materiałów 3D, struktur okresowych
- Cienkich warstw i krzemowych ogniw słonecznych, nanostruktur
- Przezroczystych przewodzących tlenków, kropek kwantowych, nanodrutów, CNT
- Półprzewodników